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    inTEST 安全芯片高低温冲击测试
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    inTEST 安全芯片高低温冲击测试

    inTEST 安全芯片高低温冲击测试
    上海伯东美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度,可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.

    安全芯片多用于银行卡, 门禁卡及物联网中, 由于受到工作空间狭小, 芯片接触面积小, 空气流通环境差, 散热的条件不好等影响,芯片表面可能会经历快速升温, 并且需要在高温的环境中长时间工作; 同时实验室也会搜集一些芯片的高低温运行的数据做留存资料.所以测试安全芯片在快速变温过程中的稳定性十分必要.

    上海伯东安全芯片高低温测试客户案例:某半导体公司,安全芯片测试温度要求 ﹣40℃~105℃, 选用 InTEST ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 对安全芯片进行快速冷热冲击, 设置 12组不同形式的循环温度设定,快速得到完整精确的数据.

    示意图

    inTEST 安全芯片高低温冲击测试

    inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数:

    型号

    温度范围 °C

    * 变温速率

    输出气流量

    温度
    精度

    温度显示
    分辨率

    温度
    传感器

    ATS-545

    -75 至 + 225(50 HZ)
    -80 至 + 225(60 HZ)
    不需要LN2或LCO2冷却

    -55至 +125°C
    约 10 S 或更少
    +125至 -55°C
    约 10 S 或更少

    4 至 18 scfm
    1.9至 8.5 l/s

    ±1℃
    通过美国NIST 校准

    ±0.1℃

    T或K型
    热电偶


    若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:
    上海伯东: 叶小姐                                   台湾伯东: 王小姐
    T: +86-21-5046-3511 ext 109              T: +886-3-567-9508 ext 161
    F: +86-21-5046-1490                            F: +886-3-567-0049
    M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 )      M: +886-939-653-958
    qq: 2821409400 
    www.imoozz.com                        www.hakuto-vacuum.com.tw

    现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶小姐 1391-883-7267
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